本文標(biāo)題:透射電子顯微鏡樣品要求
信息分類:站內(nèi)新聞 新聞來源：未知 發(fā)布時間：2014-8-19 16:26:07
透射電子顯微鏡樣品要求
透射電子顯微鏡觀察分析檢測粉末樣品基本要求，透射電子顯微鏡觀
察分析檢測單顆粉末尺寸觀察分析檢測最好觀察。
透射電子顯微鏡觀察分析檢測無磁性，透射電子顯微鏡以無機(jī)成分觀
察分析檢測為主，否則會造成觀察分析檢測電鏡嚴(yán)重的污染，高壓跳
掉觀察分析檢測，甚至擊壞觀察分析檢測高壓槍。
透射電子顯微鏡觀察分析檢測塊狀樣品基本要求，透射電子顯微鏡觀
察分析檢測需要電解減薄觀察分析檢測或離子減薄觀察分析檢測，獲
得幾十納米的薄區(qū)才能觀察分析。
透射電子顯微鏡觀察分析檢測，比如晶粒尺寸觀察分析檢測也可用破
碎等機(jī)械方法制成粉末來觀察分析。
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