本文標(biāo)題:透射電子顯微鏡相襯技術(shù)
信息分類:站內(nèi)新聞 新聞來源：未知 發(fā)布時間：2014-9-3 17:05:50
透射電子顯微鏡相襯技術(shù)
透射電子顯微鏡相襯技術(shù)晶體結(jié)構(gòu)可以通過觀察檢測出來測
量高分辨率透射電子顯微鏡來研究，這種觀察檢測出來測量
技術(shù)也被稱為相襯顯微技術(shù)。
透射電子顯微鏡相襯技術(shù)觀察檢測出來測量當(dāng)使用場發(fā)射電
子源的時候，觀測觀察檢測出來測量圖像通過由電子與觀察
檢測出來測量樣品相互作用導(dǎo)致的電子波相位的差別重構(gòu)得
出。
透射電子顯微鏡相襯技術(shù)觀察檢測出來測量然而由于圖像還
依賴于射在屏幕上的電子的數(shù)量，觀察檢測出來測量對相襯
圖像的識別更加復(fù)雜。
將本頁加入收藏
下一篇：原子的位錯缺陷的改變
上一篇：透射電子顯微鏡第一部實際工作
本文出自上海永亨光學(xué)儀器有限公司，本文地址：http://www.jxrosim.cn/xinwen/1080.html
工業(yè)顯微鏡測量顯微鏡視頻顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
合作伙伴：http://www.xianweijing.org/顯微鏡百科
- 沒有資料
