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本文標(biāo)題:透射電子顯微鏡相襯技術(shù)

信息分類:站內(nèi)新聞　新聞來源：未知發(fā)布時(shí)間：2014-9-3 17:05:50

透射電子顯微鏡相襯技術(shù)

透射電子顯微鏡相襯技術(shù)晶體結(jié)構(gòu)可以通過觀察檢測(cè)出來測(cè)

量高分辨率透射電子顯微鏡來研究，這種觀察檢測(cè)出來測(cè)量

技術(shù)也被稱為相襯顯微技術(shù)。

透射電子顯微鏡相襯技術(shù)觀察檢測(cè)出來測(cè)量當(dāng)使用場(chǎng)發(fā)射電

子源的時(shí)候，觀測(cè)觀察檢測(cè)出來測(cè)量圖像通過由電子與觀察

檢測(cè)出來測(cè)量樣品相互作用導(dǎo)致的電子波相位的差別重構(gòu)得

出。

透射電子顯微鏡相襯技術(shù)觀察檢測(cè)出來測(cè)量然而由于圖像還

依賴于射在屏幕上的電子的數(shù)量，觀察檢測(cè)出來測(cè)量對(duì)相襯

圖像的識(shí)別更加復(fù)雜。