本文標題:使用單偏光鏡進行觀察晶體的表面情況
信息分類:站內(nèi)新聞 新聞來源：未知 發(fā)布時間：2015-9-27 14:08:41
使用單偏光鏡進行觀察晶體的表面情況
兩個相鄰的傾斜晶體物質(zhì)接觸情況下作偏光顯微檢測的
晶體物質(zhì)，檢測表面上的突起與晶體單光偏振檢測晶體
表面時發(fā)現(xiàn)粗糙的呈現(xiàn)麻點的粗糙表面晶質(zhì)。
因此兩個相鄰的傾斜晶體物質(zhì)檢測表面上的突起晶體粗
糙表面，進行接觸晶體之產(chǎn)間折射率大的面會比折射率
小的檢測。
通常我們在使用偏光顯微鏡進行顯微檢測研究分析接觸
晶體之產(chǎn)間折射率與晶體單光偏振檢測晶體表面的情況
時，則是根據(jù)膠體折射率不同引起的。
因此對于兩個相鄰的傾斜晶體間折射率與偏振檢測晶體
表面折射率不同，這主要是在視覺上的突起表現(xiàn)，是表
現(xiàn)為晶體折射率的。
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