本文標(biāo)題:使用顯微鏡檢測(cè)晶體物質(zhì)的形態(tài)是什么

使用顯微鏡檢測(cè)晶體物質(zhì)的形態(tài)是什么

通常我們?cè)谑褂闷�光顯微鏡進(jìn)行顯微檢測(cè)研究分析時(shí)，
則主要是根據(jù)兩個(gè)晶體物質(zhì)之間傾斜接觸進(jìn)行的。

在進(jìn)行接觸晶體之產(chǎn)間折射率的檢測(cè)，晶體則是一種每
礦物的固定或是特定的形態(tài)進(jìn)行的，而對(duì)于這種情況則
主要取決于晶體結(jié)構(gòu)與生長(zhǎng)的條件進(jìn)行的。

因此對(duì)于晶體的檢測(cè)還需要與生長(zhǎng)結(jié)構(gòu)的一個(gè)礦物質(zhì)的
鑒別特征是分不開(kāi)的。

因而我們通常情況下所對(duì)晶體進(jìn)行檢測(cè)的是比較常見(jiàn)的
晶體形式形態(tài)，如軸狀晶體形態(tài)、板狀體形態(tài)、針狀體
形態(tài)、纖維狀體形態(tài)與集合體呈放射狀的體形態(tài)。

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