本文標題:如何使用正交偏光下鑒定晶體光學性質
信息分類:站內新聞 新聞來源：未知 發布時間：2015-10-7 12:07:31
如何使用正交偏光下鑒定晶體光學性質
對于偏光顯微鏡來說，它主要是由機械部件與光學部件
以及照明系統組合而成的。
我們在使用偏光顯微鏡進行鑒定物質的光學性質，則主
要是用來對單偏光或是正交偏光以及錐光進行分析的一
種光學分析系統。
偏光顯微鏡上的物鏡則是由一到五組復式透鏡組成的，
我們把下端的透鏡稱為前透鏡，而上面的則稱為后透鏡。
同時是不能夠使用偏光顯微鏡中的錐光鏡與上偏光鏡的
，這樣我們所檢測出的晶體物質的形貌特征，就是檢測
出晶體的形態與晶體顆粒的大小情況。
而通常我們在使用偏光顯微鏡進行顯微觀察檢測時，會
有三到七個不同的放大倍數的物鏡進行選擇，因此放大
位數越大則數值孔徑就越大分辨率就越高。
將本頁加入收藏
下一篇：晶體物質的解理是什么
上一篇：偏光顯微鏡有解理面與試板
本文出自上海永亨光學儀器有限公司，本文地址：http://www.jxrosim.cn/xinwen/1867.html
工業顯微鏡測量顯微鏡視頻顯微鏡專業的供應商
合作伙伴：http://www.xianweijing.org/顯微鏡百科
- 沒有資料
