本文標題:電子顯微鏡樣品減薄技術、真空系統和電源系統
信息分類:站內新聞 新聞來源：未知 發布時間：2014-4-30 15:10:18
電子顯微鏡樣品減薄技術、真空系統和電源系統
電子顯微鏡樣品復型技術只能對樣品表面性貌進行復制，不能對晶
體內部組織結構信息，受復型材料本身尺寸的限制，電鏡的高分辨
率本領不能得到充分發揮，但對基體組織仍是表面性貌的復制。
在這種情況下樣品減薄技術具有許多特點，特別是金屬薄膜樣品。
樣品減薄技術可以最有效地發揮電鏡的高分辨率本領。
電子顯微鏡樣品減薄技術能夠觀察金屬及其合金的內部結構和晶體
缺陷，并能對同一微區進行衍襯成像及電子衍射研究，把結構信息
聯系起來。
電子顯微鏡樣品減薄技術能夠進行動態觀察，研究在變溫情況下相
變的生核長大過程，以及位錯等晶體缺陷在引力下的運動與交互作用。
電子顯微鏡真空系統和電源系統作用是為保證電子光學系統正常工
作，防止樣品污染提供高的真空度。
電子顯微鏡真空系統和電源系統在一般情況下要求保持真空度。 電
源系統由穩壓，穩流及相應的安全保護電路所組成，其作用是提供掃
描電鏡各部分所需的電源。
將本頁加入收藏
下一篇：電子顯微鏡的紫外光射線的作用
上一篇：電子顯微鏡透射電鏡技術的簡介
本文出自上海永亨光學儀器有限公司，本文地址：http://www.jxrosim.cn/xinwen/830.html
工業顯微鏡測量顯微鏡視頻顯微鏡專業的供應商
合作伙伴：http://www.xianweijing.org/顯微鏡百科
- 沒有資料
